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用德尔格X-AM5000做高分子材料硫化氢挥发实验报告
  • 发布日期:2017-08-09      浏览次数:2532
    • 实验部分

      (1)德尔格X-am 5000气体检测仪(PH3检测范围:0-20ppm;分辨率:0.1ppm;响应时间:15s
      (2)分析天平;精度为0.1mg量程
      (3)恒温烘箱
      (4)250ml,500ml,1000ml磨口瓶
      (5)10ml,20ml小烧杯若干。
      (6)高真空硅脂(封口用)
      (7)去离子水,11兆

      X-AM5100
      实验操作

      具体操作:1用分析天平准确称取0.25g阻燃高分子材料样品,假如10ML小烧杯中,用量筒量取10ml去离子水加入1000ml磨口瓶中,磨口瓶置于70℃恒温烘箱中,瓶盖对应放在瓶子旁边,半小时左右磨口瓶内外温度基本一致后,在瓶口涂上真空树脂,加盖密封好,分别防止挥发1天,2天,3天,4天,5天,6天,7天,8天,9天,10天,然后根据实验设计的设置时间,取出相应的实验磨口瓶,冷却后,用测定仪测量,记录下测得的数据,取平均值后对应的时间作图,结果如图所示,从图看出,阻燃高分子样品中硫化氢含量随挥发时间增加而变大。

      实验挥发

      实验评论:为何用德尔格气体检测仪X-AM5000而不是PAC7000H2S。

      德尔格外置泵

      该实验没有指出是用了泵吸式的X-AM5000,如果用扩散式采集数据,那瓶中的H2S挥发出去较多,影响zui终检测数据。如果采用泵吸式,因为德尔格仪器反应时间快,能把误差减少,快速检测仪器检测的数据并不是准确,但是能够反应一个趋势。